时域分析功能及眼图功能

在微波射频领域，如何有效消除有害的测试夹具效应是一大挑战。比如在对SMD器件进行测试时

需要特定的测试夹具实现测试仪器测试端与器件输入端的转接，导致测试结果中包含了测试夹具

的特性。目前SNA5000A系列提供的去除测试夹具影响的方法主要有：端口延伸，端口匹配，端

口阻抗转换，去嵌入，适配器移除等。

另外，SNA5000A系列还支持TDR时域反射计测量功能，可在时域对传输线的特征阻抗，时延等

参数进行分析。

材料介电特性的精确表征和测量

鼎阳科技材料测量的全套解决方案，包括SNA系列矢量网络分析仪、MT材料测量分析软件、

KWR42A波导校准件和夹具，可以帮助用户高效、精确的表征和测量材料的介电特性。SNA

系列矢量网络分析仪兼具出色的测量完整性和经济适用性，通过测量向导指引用户完成材料

测量过程，测量结果可用多种格式绘制，帮助用户更好地分析测量结果，非常适合实验室、

研究机构和教育教学环境。